【公开课】芯片 ATE 测试—93K 机台与 Smartest 软件介绍
当前，随着中国集成电路产业的高速发展，芯片测试作为确保产品良率与可靠性的关键环节，其技术人才缺口日益凸显。尤其在测试设备操作层面，行业普遍面临两大痛点：
一方面，高端 ATE 测试平台（如 93K 系统）操作复杂，入门学习曲线陡峭，大量电子相关专业学生因缺乏实操机会而难以跨过求职门槛；
另一方面，企业急需既理解测试原理又能快速上手的工程师，传统培训模式往往重理论轻实践，导致学员在实际配置测试参数（如 Timing 时序设置、Levels 电平调节）时频频失误，甚至引发批量性芯片失效风险。
在此背景下，本次公开课以工业级 93K 测试机台与 Smartest 软件为核心载体，旨在搭建从理论认知到实战操作的桥梁，帮助学习者突破“纸上谈兵”的困局。
本次公开课将聚焦 93K 测试系统的基础架构与 Smartest 软件的核心操作逻辑。课程首先解析 93K 测试机的硬件组成与信号通路设计，阐明引脚定义、电平规范、时序控制三大参数对芯片功能测试的决定性影响；随后通过仿真环境演示 Device Directory 的创建流程，并手把手指导 Functional Test（功能测试项）的基础配置。
我们相信，通过两小时的系统导览，学员不仅能构建 ATE 测试的底层认知框架，更将掌握企业级测试规范的设计思维，为后续深入学习或职业转型奠定关键基石。
公开课时间：
2025 年 6 月 29 日星期日晚 19：00
直播方式：
腾讯会议 扫码入会
微信交流群：
一、课程介绍
本课程主要分为以下五个部分；
第一部分：
1.93K 测试系统介绍（2 课时）
2.Smartest 软件介绍（2 课时）
3.Pin Configuration 介绍（2 课时）
4.如何设置 Levels（2 课时）
5.如何设置 Timing（2 课时）
6.Part1 Offline 实验练习（2 课时）
第二部分：
7.Vectors/Pattern 介绍（2 课时）
8.Loadboard Calibration 介绍（2 课时）
9.如何创建一个 Testflow（2 课时）
10.Part2 Offline 实验练习（2 课时）
第三部分：
11.Universal Test Method 介绍（2 课时）
12.DC Testing 介绍（2 课时）
13.Digital Debugging 介绍（2 课时）
14.Test Method and Test Hardware Debugging 介绍（2 课时）
15.Part3 Offline 实验练习（2 课时）
第四部分：
16.Data Logging 与量产测试执行介绍（2 课时）
17.Device Characterization 介绍（2 课时）
18.Shmoo 与 Data Analysis 工具介绍（2 课时）
19.Part4 Offline 实验练习（2 课时）
第五部分：
20.Pin Margin 工具介绍（1 课时）
21.X-Mode 介绍（1 课时）
22.Multiport 介绍（1 课时）
23.93K 测试 Pattern 转换（1 课时）
24.Part5 Offline 实验练习（2 课时）
二、课程内容
本课程总共规划 44 个课时。其中第一到第二部分共 20 个课时，第三~第四部分共 18 个课时，第六部分约 6 个课时。
课程的第一部分主要介绍 93K 测试系统与 Smartest 软件，包括 93K 测试系统的硬件陪住与 Smartest 软件框架，另外还介绍了如何设置 Pin Configuration、Levels 与 Timing。
第二部分主要介绍 Vectors/Pattern，还详细介绍了如何在 Smartest 软件中快速建立一个 Testflow。
第三部分主要介绍 DC 测试与 Test Method，还介绍了 DC 测试的调试环境与调试工具。
第四部分主要介绍 Device Characterization 相关内容，包括 Smartest 自带的 Shmoo 与数据分析工具，另外还详细介绍了 Data Logging 与量产测试程序执行相关的内容。
第五部分主要介绍 Pin Margin 工具、X-Mode 以及 Multiport 相关内容，另外还介绍了 93K 测试 Pattern 的转换方法与常用工具。
其中每个部分最后一个小节都安排了 Offline 上机实验练习，帮助大家理论联系实践，将课堂上学到的内容融会贯通。
Offline 实验练习安排：
1.在 Smartest 软件环境中创建一个 Device Directory，查看生成的 Device Directory 的结构；定义 pins、levels、timing，验证所设置的 timing；
2.在 Smartest 软件环境中打开并编辑一个 Pattern，创建一个 Testflow，插入一个 functional 测试项、一个 continuity 测试项、一个 leakage 测试项；
3.在 Smartest 软件环境中创建一个 project 和一个 class，添加基于 Test method 的测试项到 Testflow 中，添加基于 PPMU 的 DC 测试项，添加基于 DPS 的 DC 测试项；
4.加载并修改之前建立好的 Testflow，设置 Data Logging，添加 Characterization 测试项，使用 Shmoo 工具、数据分析工具进行简单的调试，并创建一个量产测试程序；
5.加载并修改之前建立好的 Testflow，设置并执行 Pin Margin 工具；使用常用的工具对 93K 测试 Pattern 进行转换练习；
三、面向对象
1.对芯片生产测试主要是 ATE 测试感兴趣，但苦于无法入门的同学。
2.大学阶段是通信、自动化、电子信息技术、计算机等电子相关专业，毕业后想从事半导体行业工作的同学。
3.非本方向但是对芯片 ATE 测试感兴趣，想转行做 ATE 测试的同学。
4.学习过杰哥第一阶段 ATE 测试基础课程的同学。
四、讲师资质
讲师硕士毕业于上海交通大学自动化系，毕业后在德州仪器上海研发中心从事芯片 ATE 测试工作超过 5 年，目前在国内一家 AI 芯片企业继续从事芯片 ATE 测试技术专家与管理相关工作。
讲师在芯片 ATE 测试领域深耕十年，累计超过 10 款以上不同芯片项目从研发到大规模量产的成功经验。
五、公开课与试听课
扫码进入，立即观看公开课！
更多课程细节咨询：
承接芯片测试外包服务+iczhuanjia 2022-02-25 加入
公众号“IC男奋斗史”：资深ATE测试专家，承接芯片测试外包服务。
评论